Главное


Микроэлектроника

Меньше, дешевле, быстрее - таковы постоянные стремления производителей микроэлектронных приборов. В этой отрасли каждое новое поколение продуктов должно превосходить предыдущее, будучи меньше по размеру и без значительного увеличения затрат.

Данные правила также применимы к каждой компоненте, используемой при производстве, включая:

• транзисторы

• конденсаторы

• индукторы

• резисторы

• диоды

Так как размер этих приборов постоянно уменьшается, повышается необходимость во все более мощных методах измерения с целью анализа монтажных плат со все большей плотностью монтажа. При таких малых размерах влияние каждого дефекта становится все сильнее, в то время как новые факторы, появляющиеся в результате усложнения дизайна, такие как электростатические силы, начинают заметно влиять на результат.

Для мониторинга качества проектирования и производства в данной области часто используется комбинация систем микроскопии. Примерами являются:

• стереомикроскопия и световая микроскопия в целях нахождения общих дефектов и контроля качества соединений; • металлургическая микроскопия в проходящем и отраженном свете для контроля качества полупроводниковых пластин, и видеоизмерительные системы для подробного метрологического анализа и метрологического отчета; • система микроскопии для контроля качества пластин и фотошаблонов с целью идентификации дефектов в отраженном свете.

Использование дополнительных цифровых камер высокого разрешения и интуитивно понятного, но мощного программного обеспечения для анализа изображений может еще более повысить качество контроля, делая производителей готовыми к изготовлению чипов следующего поколения, отвечающим еще более строгим инженерным требованиям. [1]

Основные методы и приборы: стереомикроскопия, наблюдение в проходящем и отраженном свете, инвертированные микроскопы, видеоизмерительные системы, цифровые камеры, программное обеспечение NIS Elements. (Рисунок 6)

Рисунок 6 SMZ 1500

Новейший и самый совершенный стереомикроскоп Nikon SMZ1500 создан специально для профессиональных исследователей естественных наук. Он обладает самым высоким в мире коэффициентом трансфокации от 0,75x до 11,25x, комплектуется новейшими и передовыми принадлежностями для решения самых сложных задач и может соперничать с модульными микроскопами высокого класса. Благодаря этим функциям оператор может исследовать и фотографировать образцы как в макро-режиме, так и микро-изображения с большим увеличением.

Другие статьи по теме

Построение кодера на основе многочлена
Помехоустойчивое кодирование состоит в целенаправленном введении избыточности для того, чтобы появилась возможность обнаруживать и/или исправлять ошибки, возникающие при передаче по кана ...

Использование среды Cadence Virtuoso для проектирования интегральных микросхем
Принятая на сегодняшний день модель развития промышленности предполагает широкую роботизацию‚ создание гибких автоматизированных производств и отводит особое место микроэлектронике как с ...

Методы оценки качества функционирования систем распределения информации
Автоматическая телефонная станция (АТС), сеть связи, для передачи и приема различного вида информации (телефонной, телеграфной, передача данных) состоят из тысяч отдельных приборов, кот ...

www.techspirit.ru © 2019