Главное


Микроэлектроника

Меньше, дешевле, быстрее - таковы постоянные стремления производителей микроэлектронных приборов. В этой отрасли каждое новое поколение продуктов должно превосходить предыдущее, будучи меньше по размеру и без значительного увеличения затрат.

Данные правила также применимы к каждой компоненте, используемой при производстве, включая:

• транзисторы

• конденсаторы

• индукторы

• резисторы

• диоды

Так как размер этих приборов постоянно уменьшается, повышается необходимость во все более мощных методах измерения с целью анализа монтажных плат со все большей плотностью монтажа. При таких малых размерах влияние каждого дефекта становится все сильнее, в то время как новые факторы, появляющиеся в результате усложнения дизайна, такие как электростатические силы, начинают заметно влиять на результат.

Для мониторинга качества проектирования и производства в данной области часто используется комбинация систем микроскопии. Примерами являются:

• стереомикроскопия и световая микроскопия в целях нахождения общих дефектов и контроля качества соединений; • металлургическая микроскопия в проходящем и отраженном свете для контроля качества полупроводниковых пластин, и видеоизмерительные системы для подробного метрологического анализа и метрологического отчета; • система микроскопии для контроля качества пластин и фотошаблонов с целью идентификации дефектов в отраженном свете.

Использование дополнительных цифровых камер высокого разрешения и интуитивно понятного, но мощного программного обеспечения для анализа изображений может еще более повысить качество контроля, делая производителей готовыми к изготовлению чипов следующего поколения, отвечающим еще более строгим инженерным требованиям. [1]

Основные методы и приборы: стереомикроскопия, наблюдение в проходящем и отраженном свете, инвертированные микроскопы, видеоизмерительные системы, цифровые камеры, программное обеспечение NIS Elements. (Рисунок 6)

Рисунок 6 SMZ 1500

Новейший и самый совершенный стереомикроскоп Nikon SMZ1500 создан специально для профессиональных исследователей естественных наук. Он обладает самым высоким в мире коэффициентом трансфокации от 0,75x до 11,25x, комплектуется новейшими и передовыми принадлежностями для решения самых сложных задач и может соперничать с модульными микроскопами высокого класса. Благодаря этим функциям оператор может исследовать и фотографировать образцы как в макро-режиме, так и микро-изображения с большим увеличением.

Другие статьи по теме

Локальная вычислительная сеть
Введение Компьютеры появились в жизни человека не так уж давно, но почти любой человек может с твердой уверенностью сказать, что будущее - за компьютерными технологиями. Процесс развит ...

Диспетчерский контроль движения поездов
Диспетчерский контроль движения поездов позволяет диспетчеру видеть на световом табло участка в каждый момент времени местонахождение всех поездов и состояние входных, выходных светофоро ...

Исследование методов организации служебной связи при строительстве волоконно-оптических линий связи
Обеспечение массового доступа абонентов к современным телекоммуни-кационным и информационным услугам является одной из важнейших проблем в нашей стране. Актуальность этого вопроса возра ...

www.techspirit.ru © 2019