Главное


Автомобильная промышленность

Когда речь заходит об обработке поверхности, конкуренция в автомобильной промышленности очень высока. Начиная от исходных проектных решений компонентов до серийного производства и контроля качества для обеспечения унифицированности и высокого качества деталей должны соблюдаться строжайшие нормы. Международные требования к повышению экономичности и топливной эффективности повысили необходимость в долговечных и более рационально подогнанных компонентах, которые могут улучшить работу и снизить уровень отрицательного воздействия каждого автомобиля на окружающую среду. Следование этим высоким стандартам не только повышает срок службы компонентов, но и защищает репутацию их производителя.

Для проверки юстировки, качества поверхности, пространственной геометрии и функционального качества деталей машинной обработки производители должны использовать различные методы микроскопии. Они включают в себя такие основные методы, как стереомикроскопия и использование инвертированных микроскопов, а также более сложные аналитические приборы, в том числе видеоизмерительные системы, специальные метрологические микроскопы и микроскопы поляризованного света. Каждый из этих приборов может использоваться для оценки ключевых функциональных параметров компонентов, включая:

• подшипники распределительного и коленчатого вала,

• топливные инжекторы и впрыскивающие сопла,

• детали, отлитые из пластмассы,

• поверхности цилиндра,

• тормозные диски,

• коробки передач,

• поршни, стержни и кольца

• соединительные штоки

Производство деталей в точном соответствии со стандартами может увеличить срок их службы и обеспечить более экономичный, направленный на производство процесс изготовления, который в конечном итоге может повысить качество и увеличить прибыль. (Рисунок 4)

Рисунок 4 Eclipse LV150 Series

Передовая оптика, цифровые возможности и модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV150 обеспечивают беспрецедентный уровень универсальности и гибкости, который позволяет им работать с широким рядом продуктов и задач от проектирования и контроля качества до контроля на производстве. Данные микроскопы обеспечивают превосходную производительность при контроле качества полупроводников, плоских панелей, корпусов электронных / оптических устройств, электронных подложек, материалов, медицинских приборов и множества других образцов.

Другие статьи по теме

Информационно-измерительная система
Целью данной курсовой работы является анализ информационно-измерительной системы (ИИС), определение типа топологии и оптимального пространственного расположения объектов ИИС, при которо ...

Технологический процесс изготовления платы интегральной микросхемы-фильтра
Микроэлектроника как современное направление проектирования и производства электронной аппаратуры различного назначения является катализатором научно-технического прогресса. Автоматизац ...

Цифровой аудио сигма-дельта модулятор
1. На уровне идеальных макромоделей интеграторов и компаратора проверить справедливость значений коэффициентов перед интеграторами, приведенных в статье. Проверкой является рабо ...

www.techspirit.ru © 2020